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Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1(白光干涉仪)

对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半dao体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据 展开

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是否进口产地美国
类型原子力显微镜品牌Bruker
型号ContourGT-K1目镜放大倍数1000000
物镜放大倍数1000000订货号111
货号111仪器放大倍数1000000
重量200000g适用范围科研和工***各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造
装箱数3加工定制
规格100*100是否跨境货源
展开

Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1


 

布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球lingdao者,服务于科研和生产ling域。***白光干涉仪ContourGT系列结合***的64位多核操作和分析处理软件,zhuan  li技术白光干涉仪(WLI)硬件和***的操作简易性,历年来来zui***的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有***zui高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,zui广泛使用和zui直观的3D表面计量平台。

 

应用:

    LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半dao体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据

 

原理:

利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地dao致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。

 

特征:

◆ ***zui高的垂直分辨率,zui强大的测量性能

0.5~200倍的放大倍率

任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程

高分辨率摄像头

 

◆  测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性

较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力

zhuan  li的自动校准能力

◆  多核处理器下运行的Vision64? 软件,大大提高三维表面测量和分析速度

数据处理速度提高几十倍

分析速度提高十倍

无以伦比的大量数据无缝拼接能力

 

◆  高度直观的用户界面,拥有***zui强的实用性,操作简便和分析功能强大

优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程

独特的可视化操作工具

可自行设置数据输出的界面

 

部分选择项:

可编程控制150mm(6in)自动样品台

可选操纵手柄

可选高速聚焦;

可选缝合功能;

可选XY自动移动功能

参数:


设备咨询电话:

18263262536(微信同号);

0632-5976067

QQ:2633643337;


邮箱:hzb@astchina.com

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供应商信息

亚科电子成立于1998年。公司自成立以来就一直专注于半导体、微组装和电子装配等领域的设备集成和技术服务。目前公司拥有一支在半导体制造、微组装及电子装配等领域经验丰富的专业技术团队,专业服务于混合电路、光电模块、MEMS、3D封装、化合物半导体、微波器件、功率器件、红外探测、声波器件、集成电路、分立器件、微纳等领域。

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企业类型 其他有限责任公司 统一社会信用代码 911101055732342852
成立日期 2011-04-08 法定代表人/负责人 彭辉
注册资本 100万(元) 注册地址 北京市朝阳区酒仙桥路14号53幢6层605室
营业期限 2011-04-08 至 2031-04-07 登记机关 北京市工商行政管理局朝阳分局
经营范围 技术推广服务;市场调查;经济贸易咨询;展览服务;组织文化艺术交流活动(不含演出);销售机械设备、五金交电、电子产品、金属材料、建材、化工产品(不含危险化学品);货物进出口、技术进出口、代理进出口。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
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