对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，校准试样哪家好，光截法，电解法，厚度差测量法，校准试样方案，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，校准试样公司，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
对比试样校准探头选择
超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，探头为本次选择的探头。为***仪器精度和稳定性，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。
对比试样校准介绍
用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，校准试样，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。
| 企业类型 | 股份有限公司(上市、国有控股) | 统一社会信用代码 | 91110108802071804M |
|---|---|---|---|
| 成立日期 | 2001-03-21 | 法定代表人/负责人 | 杨植岗 |
| 注册资本 | 25,501万(元) | 注册地址 | 北京市海淀区高梁桥斜街13号 |
| 营业期限 | 2013-07-31 至 2033-07-30 | 登记机关 | 北京市海淀区市场监督管理局 |
| 经营范围 | 技术开发、技术服务、技术转让、技术咨询；质检技术服务；检测服务；标准化服务；环境保护监测；研发仪器仪表、试验机、机械产品、机电产品、电子产品、仪器备件、标准物质、试验消耗品；销售仪器仪表、试验机、机械产品、机电产品、电子产品、仪器备件、标准物质、试验消耗品；自然科学研究与试验发展；工程和技术研究与试验发展；代理进出口；货物进出口；技术进出口；认证服务。（市场主体依法自主选择经营项目，开展经营活动；认证服务以及依法须经批准的项目，经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动；不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。） | ||
