电路板开短路测试仪宜兰县德律TR518FE测试板卡品牌

新世代多功能 組裝電 路板 測試機 ? I C T *** ? 行 銷全 球、成 功進入日本及歐美 測試界 ? 資訊大 廠最 佳的選擇 ? 台灣 精品標誌 通 過 ? 功能 超強、品質 *** 強 大 的 軟 體作業 環境 u 視窗版作業環境、人性化界面設計、 操作簡易 u 電腦自動學習並自動產生，開/短路 、Pin Information 及 IC 保護二極管之 測試程式 u 電腦自動隔離點選擇功能，自動判斷 信號源及信號流入方向 u 可網路連線，並結合資料庫管理及測 試站監控程式 u 完整測試統計資料及報表產生，且自 動儲存，不因斷電而遺失數據 u 系統具自我診斷功能及遠端遙控功能 u BoardView 功能可即時顯示不良元件 、針點之位置,方便檢修

TR-518FE 1、ICT品牌 2、行销全球，成功进入日本及欧美测试界 3、中国大陆，华中、华南均有服务据点 4、国内主要资讯大厂***的选择 5、ISO9001认证，台湾精品标志通过 6、功能***，品质 一、强大的软体作业环境 1、视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 2、电脑自动学习并自动产生，开/短路Pin Information及IC保护二极体之测试程式 3、电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号泊及信号流入方向 4、可纲路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 5、完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 6、系统且自我诊断功能及远端遥控功能 7、BoardView功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 二、完善的硬体架构设计 1、高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性*** 2、操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 3、大型主机设计，高密度Switching 三、***的测试技术整合 1、率先引进HP TestJet技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果*** 2、应用IC Clamping Diode可辅助检测BGA开路空焊问题 3、辅助学习模组可检测IC反向问题 4、采用三端测试功能，具有***的电容极性反插检测率 5、选项功能强大，可针对不同之测试需求，加装如频率量测、电压量测、电流量测 6、具备1MHZ信号源，可***量测小电容小电感 7、具三点量测模式，可量测电晶体、FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件之间反插问题 8、具Pin Contact检查功能

● ***的电解电容极性测试技术可测***达100％。 ● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。 ● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。 ● 多连板程式自动生成功能。 ● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定 ● R.L.C相位分离技术 ● 杂散电容OFFSET功能 ● 系统自我诊断功能。 ● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。 ● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。 ● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。 ● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求 T-518Fv系统规格 测试点数 标准配备：320点可扩充点数：1024点 测试时间 开/短路测试 : 1024点约0.5Sec每一零件 : 1ms ~ 40ms 可调 测试步骤 ***制 隔离电路 隔离点自动选择，每测试步骤10点

1、率先引进hp testjet技术，检测smt元件开路空焊问题，效果 2、应用ic clamping diode可辅助检测bga开路空焊问题 3、辅助学习模组可检测ic反向问题 4、采用三端测试功能，具有的电容极性反插检测率 5、选项功能强大，可针对不同之测试需求，加装如频率量测、电压量测、电流量测 6、具备1mhz信号源，可量测小电容小电感 7、具三点量测模式，可量测电晶体、fet、scr等元件，并可对photo-coupler提供四点量测，确实检测上述元件之间反插问题 8、具pin contact检查功能

德律泰TR5001SII QDI ict***的在线型ICT+FCT解决方案拥有突破性的优越表现，多核心平行测试功能具多达四个独立的核心，能够大幅提升测试产能。 TRI****的离线型机台特色与***认可的防夹手安全设计，能够确保不间断产线运作，TR5001 SII QDI 拥有长生命周期快速插拔治具及内建自我诊断系统支援自动校验功能，能够确保长期的测试可靠度

CT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 是一种元器件级的测试方法用来测试装配后的电路板上的每个元器件 飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。 针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖***，但对每种单板需制作专用的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。