| 产品特性快速无损 | 是否进口否 |
| 产地江苏 | 加工定制是 |
| 类型镀层测厚仪 | 品牌天瑞 |
| 型号EDX2000A | 测量范围0.00005~0.05mm |
| 电源电压AC220V | 外形尺寸485×588×505mm |
| 测量元素范围铝（AL）~铀（U） | 检出限0.005μm |
| 含量测试范围0.1%-99.*** | 厚度测试标准偏差＜3% |
| 含量检测精度＜0.5% | 检测时间5-40秒 |
| 探测器FAST SDD探测器 | 能量分辨率140±5ev |
| X射线装置微焦斑W靶光管 | 仪器重量60kg |
SKYRAY天瑞 X荧光镀层测厚仪 镀金层膜厚测试仪EDX2000A
EDX2000A是天瑞仪器股份有限公司专.门研发的一款上照式结构的镀层测厚仪。采用进口高分辨率的的FASTSDD探测器和大功率.高压单元搭配微聚焦的X光管。针对复杂底材以及多层复杂镀层，极.大的保.证了信号输出的效率与稳定性。 展开
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